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        微機繼電保護測試儀df、dv/dt閉鎖介紹
        點擊次數(shù):2015 更新時間:2016-12-08
           一、微機繼電保護測試儀df/dt閉鎖:
          1.df/dt測試范圍
          測試“df/dt閉鎖值”時,在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試,每次測試時都從頻率始值下滑(或上滑)至終值,下滑(或上滑)的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化,試探至某一輪試驗至保護動作,則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。因為保護在大于整定的df/dt值下滑時閉鎖,所以,一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護整定的閉鎖值,變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護整定的閉鎖值,即測試保護從不動作到動作,測出保護的df/dt閉鎖值。
          2.頻率變化范圍
          每輪試驗頻率從始值下滑(或上滑)至終值。始值一般為50Hz,變化終值不能設(shè)置太小,因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”,頻率太低了,裝置將會被閉鎖不出口。
          注意:做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小,以使保護有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。
          二、微機繼電保護測試儀dv/dt閉鎖:
          這個測試頁與上“df/dt閉鎖”很相似,區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。
          1.dv/dt測試范圍
          測試“dv/dt閉鎖值”時在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試,每次測試時電壓都從電壓變化始值下滑至終值,下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化,試探至某一輪試驗如果保護動作,則測出dv/dt閉鎖的邊界值。
          因為裝置在大于整定的dV/dt閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài),所以,一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值,變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作做到動作,從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。
          2.電壓變化范圍
          為了模擬電壓下降的過程,一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時,為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖,因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。
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